Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設(shè) 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計 的量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設(shè)計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進行的工作，只是選擇 程式設(shè)計者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時 間。

Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)的特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 512個 I/O 通道(I/O Channel)
• 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
• 32 DUTS 平行測試功能
• ADC/DAC 測試功能
• 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
• 實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案